ANSI/ASTM D5320-1996 测定稳定四氯乙烯中1,1,1-三氯乙烯和次甲基氯化物含量的方法
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【英文标准名称】:TestMethodsforDeterminationof1,1,1-TrichloroethaneandMethyleneChlorideContentinStabilizedTrichloroethyleneandTetrachloroethylene
【原文标准名称】:测定稳定四氯乙烯中1,1,1-三氯乙烯和次甲基氯化物含量的方法
【标准号】:ANSI/ASTMD5320-1996
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1996
【实施或试行日期】:2001-02-27
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;四氯乙烯;三氯乙烯;化学分析和试验
【英文主题词】:trichlorethylene;chemicalanalysisandtesting;tetrachloroethylene;testing
【摘要】:Thesetestmethodsprovideameansfordetermininglowlevelsof1,1,1-trichloroethaneandmethylenechlorideinvirginorreclaimedtrichloroethyleneandtetrachloroethylene.Twotestmethodsarecovered,asfollows:TestMethodA-Capillarycolumngaschromatographicdeterminationof1,1,1-trichloroethaneandmethylenechlorideintrichloroethyleneandtetrachloroethylene.TestMethodB-Packedcolumngaschromatographicdeterminationof1,1,1-trichloroethaneandmethylenechlorideintrichloroethyleneandtetrachloroethylene.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:G17
【国际标准分类号】:71_080_20
【页数】:
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 烟草病虫害分级及调查方法 |
| 英文名称： | Grade and investigation method of tobacco diseases and insect pests |
| 中标分类： |
食品 >>
制烟 >>
烟草制品 |
| ICS分类： |
农业 >>
烟草、烟草制品和烟草工业设备
|
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2008-12-31 |
| 实施日期： | 2009-06-01 |
| 首发日期： | 2008-12-31 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国烟草标准化技术委员会(SAC/TC 144) |
| 提出单位： | 国家烟草专卖局 |
| 归口单位： | 全国烟草标准化技术委员会(SAC/TC 144) |
| 起草单位： | 中国烟草总公司青州烟草研究所 |
| 起草人： | 任广伟、孔凡玉、王凤龙、钱玉梅、王刚、张成省、王秀芳、陈德鑫、王静、王新伟 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2009-06-01 |
| 页数： | 12页 |
| 计划单号： | 20050275-T-456 |
适用范围
本标准规定了由真菌、细菌、病毒、线虫等病原生物及非生物因子引起的烟草病害的调查方法、病害严重度分级以及烟草主要害虫的调查方法。本标准适用于评估烟草病虫害发生程度、为害程度以及病虫害造成的损失，也适用于病虫害消长及发生规律的研究。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 食品 制烟 烟草制品 农业 烟草 烟草制品和烟草工业设备
【英文标准名称】:StandardTestMethodsforMeasuringResistivityandHallCoefficientandDeterminingHallMobilityinSingle-CrystalSemiconductors
【原文标准名称】:测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
【标准号】:ASTMF76-2008
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2008
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.15
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:galliumarsenide;Hallcoefficient;Halldata;Hallmobility;Hallresistivity;semiconductor;silicon;singlecrystal;vanderPauw;Bridge-typeelectrical/electronicmaterials;Crystallatticestructure;Eight-contactsemiconductorspecimens;Ele
【摘要】:Inordertochoosethepropermaterialforproducingsemiconductordevices,knowledgeofmaterialpropertiessuchasresistivity,Hallcoefficient,andHallmobilityisuseful.Undercertainconditions,asoutlinedintheAppendix,otherusefulquantitiesformaterialsspecification,includingthechargecarrierdensityandthedriftmobility,canbeinferred.1.1ThesetestmethodscovertwoproceduresformeasuringtheresistivityandHallcoefficientofsingle-crystalsemiconductorspecimens.Thesetestmethodsdiffermostsubstantiallyintheirtestspecimenrequirements.1.1.1TestMethodA,vanderPauw(1)x2014;Thistestmethodrequiresasinglyconnectedtestspecimen(withoutanyisolatedholes),homogeneousinthickness,butofarbitraryshape.Thecontactsmustbesufficientlysmallandlocatedattheperipheryofthespecimen.Themeasurementismosteasilyinterpretedforanisotropicsemiconductorwhoseconductionisdominatedbyasingletypeofcarrier.1.1.2TestMethodB,ParallelepipedorBridge-Type8212;Thistestmethodrequiresaspecimenhomogeneousinthicknessandofspecifiedshape.Contactrequirementsarespecifiedforboththeparallelepipedandbridgegeometries.Thesetestspecimengeometriesaredesirableforanisotropicsemiconductorsforwhichthemeasuredparametersdependonthedirectionofcurrentflow.Thetestmethodisalsomosteasilyinterpretedwhenconductionisdominatedbyasingletypeofcarrier.1.2Thesetestmethodsdonotprovideproceduresforshaping,cleaning,orcontactingspecimens;however,aprocedureforverifyingcontactqualityisgiven.Note18212;PracticeF418coversthepreparationofgalliumarsenidephosphidespecimens.1.3ThemethodinPracticeF418doesnotprovideaninterpretationoftheresultsintermsofbasicsemiconductorproperties(forexample,majorityandminoritycarriermobilitiesanddensities).Somegeneralguidance,applicabletocertainsemiconductorsandtemperatureranges,isprovidedintheAppendix.Forthemostpart,however,theinterpretationislefttotheuser.1.4Interlaboratorytestsofthesetestmethods(Section19)havebeenconductedonlyoveralimitedrangeofresistivitiesandforthesemiconductors,germanium,silicon,andgalliumarsenide.However,themethodisapplicabletoothersemiconductorsprovidedsuitablespecimenpreparationandcontactingproceduresareknown.Theresistivityrangeoverwhichthemethodisapplicableislimitedbythetestspecimengeometryandinstrumentationsensitivity.1.5Thevaluesstatedinacceptablemetricunitsaretoberegardedasthestandard.Thevaluesgiveninparenthesesareforinformationonly.(Seealso3.1.4.)1.6Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:英语
